Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «ЛАЗЕРНАЯ МЕТОДИКА ОЦЕНКИ ПАРАМЕТРОВ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ БИС К ЭФФЕКТАМ ВОЗДЕЙСТВИЯ ОТДЕЛЬНЫХ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ, "Микроэлектроника"»

Авторы:
  • Чумаков А. И. 1
стр. 198-204
Платно
1 Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ" - ОАО «ЭНПО СПЭЛС2»
  • В выпуске: №3, 2018, Том 47
  • В журнале: Микроэлектроника
  • Издательство: ФГУП «Издательство «Наука»
  • Рубрика ГРНТИ: Информатика. Информационные и вычислительные системы
  • Год выхода: 2018
Аннотация:
Предложена расчетно-экспериментальная методика по оценке чувствительности БИС к эффектам воздействия отдельных заряженных частиц, основанная на применении лазерного излучения. Чувствительность СБИС определяется по результатам сканирования лазерным излучением пикосекундной длительности всей поверхности кристалла. Оценка оптических потерь в этих же точках определяется по результатам измерения ионизационного тока при воздействии стационарным лазерным излучением.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.