Статья «ЭЛЕМЕНТ СОВПАДЕНИЯ НА ОСНОВЕ ЯЧЕЙКИ ПАМЯТИ STG DICE ДЛЯ АССОЦИАТИВНЫХ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ, СБОЕУСТОЙЧИВЫХ К ВОЗДЕЙСТВИЯМ ОДИНОЧНЫХ ЯДЕРНЫХ ЧАСТИЦ, "Микроэлектроника"»

Проведено TCAD моделирование КМОП элемента совпадения на основе ячейки памяти STG DICE во время сбора заряда с треков одиночных ядерных частиц, направленных по нормали к поверхности кристалла с линейными потерями энергии на них в диапазоне 10-60?МэВ?см2/мг. Логический элемент по объёмной 65-нм КМОП-технологии на основе ячейки памяти STG DICE и комбинационной логики “Исключающее ИЛИ” на двух инверторах с тремя состояниями предназначен для ассоциативных запоминающих устройств и буферов преобразования адресов. Сбор заряда с треков с линейными потерями энергии частицами на них в диапазоне до 60?МэВ?см2/мг не приводит к сбоям ячеек памяти STG DICE. В выходной комбинационной логике элемента совпадения возможны импульсы помех длительностью менее 0.6?нс в диапазоне линейных потерь энергии на треках 30-60?МэВ?см2/мг.