Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «Газофазное травление слоев SiO в смеси HF/CHOH, "Микроэлектроника"»

Авторы:
  • Рудаков Г. А.
стр. 114-117
Платно
  • В выпуске: №2, 2017, Том 46
  • В журнале: Микроэлектроника
  • Издательство: ФГУП «Издательство «Наука»
  • Рубрика ГРНТИ: Информатика. Информационные и вычислительные системы
  • Год выхода: 2017
Аннотация:
Рассмотрен способ сухого травления слоев SiO при формировании МЭМС структур, не приводящий к залипанию подвижных элементов. Травление жертвенного SiO в плавиковой кислоте (HF), находящейся в газовой фазе (ангидрид HF), позволяет исключить последующие сложные процессы промывки и сушки необходимые при использовании жидкостных методов травления. Использование безводной смеси HF/CHOH при низком давлении решает проблемы конденсации воды, образующаяся при травлении в парах HF, и позволяет применять газофазное травление в поверхностных МЭМС технологиях. Показаны механизмы и физико-химические процессы, протекающие при травлении термического SiO. Исследована зависимость скорости травления пленок термического SiO при температурах от 30 до 50°С и давлении в камере реактора от 10 до 20 кПа.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.