Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «БЛИЖНИЙ ПОРЯДОК ТОНКИХ ПЛЕНОК TLIN1-ХSNХTE2, "Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования"»

Авторы:
  • Алекперов Э.Ш.1
стр. 67-70
Платно
1 Бакинский государственный университет, Баку, Азербайджан
Ключевые слова:
  • электронография
  • дифракция
  • структура
  • аморфная фаза
  • вакуумная установка
  • electron diffraction
  • diffraction
  • structure
  • amorphous phase
  • vacuum installation
Аннотация:
Методом дифракции электронов высоких энергий исследовано формирование структуры ближнего порядка аморфных пленок TlIn1-xSnxTe2 (х?= 0.02-0.09) нанометровой толщины, полученных вакуумным осаждением на подложки из свежих сколов КСl, KJ и?целлулоида при температуре ниже Т?=?213 К.? Исследованию подвергались как свеженапыленные пленки, так и?пленки, которые находились в?течение нескольких месяцев в?вакууме (10-2 Па) при комнатной температуре в?темноте. Установлено влияние концентрации олова на межатомные расстояния, координационные числа и?время устойчивости аморфной фазы пленок TlIn1-xSnxTe2, которые связаны с?большим разбросом длин связей и?валентных углов.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.