Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «ИССЛЕДОВАНИЕ НЕСОВЕРШЕНСТВ КРИСТАЛЛОВ С ПОМОЩЬЮ КРАТНЫХ РЕНТГЕНОВСКИХ ИНТЕРФЕРОМЕТРОВ, "Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования"»

Авторы:
  • Дрмеян Г.Р.1
  • Мелконян А. А.2
  • Князян З. Г.3
стр. 97-104
Платно
1 Гюмрийский государственный педагогический институт, Гюмри, Армения, 2 Гюмрийский государственный педагогический институт, 3 Гюмрийский государственный педагогический институт
Ключевые слова:
  • кратный интерферометр
  • муаровые топограммы
  • поля деформации кристаллов
  • изоб- ражения дефектов
  • multiple X-ray interferrometer
  • moire topogrammy
  • crystal deformation fields
  • detection of defects
Аннотация:
На основе кратных рентгеновских интерферометров предложен и опробован способ исследования несовершенств кристаллических материалов. Показано, что двух- и трехкратные рентгеновские интерферометры позволяют более полно описать деформированное состояние кристаллов, выявить разные интерференционные картины (линии сегрегации, полосы смещения, муаровые узоры) и проанализировать образование их контраста, обусловленного дефектами исследуемых кристаллов. Опробованы двух- и трехкратные трех- и четырехкристальные интерферометры, получены муаровые картины. Предложен совершенный метод стереометрической топографии с целью выявления дефектов в монокристаллах.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.