Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «Холловский микроскоп для измерения магнитных свойств пленок, "Письма в Журнал технической физики"»

Авторы:
  • Игнатьев В.К.
  • Орлов А.А.1
  • Перченко С.В.
  • Станкевич Д.А.2
стр. 3-11
Платно
1 Институт проблем экологии и эволюции РАН – ИПЭЭ, Москва, 2 Волгоградский государственный университет
Аннотация:
Описан магнитный измерительный микроскоп, обладающий пространственным разрешением определения координат токовых диполей 3 pm. В качестве первичного преобразователя используется пленочный датчик Холла с габаритами чувствительной зоны 250 х 400 pm, размещенный на расстоянии 3 mm от плоскости сканирования. Сверхразрешение по сравнению с размерами датчика и расстоянием до объекта достигнуто путем использования априорной информации об объекте сканирования. Предложен способ калибровки магнитного микроскопа и измерения его метрологических характеристик. Сравнением случайной погрешности измерения координат токового диполя с пределом Рао-Крамера показана эффективность и состоятельность полученной оценки координат. Измерительный микроскоп может применяться при исследовании элементов функциональной электроники.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.