Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «ИЗМЕРЕНИЕ ПЬЕЗОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ КОНСТАНТ КРИСТАЛЛА ЛАНТАН-ГАЛЛИЕВОГО ТАНТАЛАТА РЕНТГЕНОДИФРАКЦИОННЫМИ МЕТОДАМИ, "Кристаллография"»

Авторы:
  • Благов А.Е.1
  • Марченков Н.В.2
  • Писаревский Ю.В.3
  • Просеков П.А.4
  • Ковальчук М.В.5
стр. 51-
Платно
1 Институт кристаллографии РАН, Москва, 2 Институт кристаллографии РАН, Москва, 3 Институт кристаллографии РАН, Москва, 4 Институт кристаллографии РАН, Москва, 5 Институт кристаллографии РАН, Москва
Аннотация:
Предложен и реализован метод измерения пьезоэлектрических модулей кристаллов средних сингоний методом квазимноговолновой рентгеновской дифракции. Метод позволяет определять величину пьезомодуля за счет измерения вариации параметра кристаллической решетки в условиях наложения внешнего электрического поля. Представлены результаты апробации метода, проведены оценки его возможностей и сравнение с результатами, полученными методом высокоразрешающей дифрактометрии.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.