Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «КОНЦЕНТРАЦИОННЫЕ ЗАВИСИМОСТИ ПАРАМЕТРА РЕШЕТКИ И ПЛОТНОСТИ КРИСТАЛЛОВ ТВЕРДОГО РАСТВОРА CA1-XSRXF2 (0 ? X ? 1), "Кристаллография"»

Авторы:
  • Ивановская Н.А.1
  • Каримов Д.Н.2
  • Сорокин Н.И.3
  • Соболев Б.П.4
стр. 230-233
Платно
1 Институт кристаллографии РАН, Москва, 2 Институт кристаллографии РАН, Москва, 3 Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Москва, 4 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт кристаллографии имени А.В. Шубникова Российской академии наук
Аннотация:
Направленной кристаллизацией по методу Бриджмена выращена концентрационная серия флюоритовых кристаллов Ca1 - xSrxF2 (0 ? x ? 1). Получены экспериментальные слабо квадратичные концентрационные зависимости параметра решетки a(x) и плотности ?(x) твердого раствора Ca1 - xSrxF2 (0 ? x ? 1). Построена градуировочная кривая плотности ?(x), пригодная для неразрушающего контроля состава оптических элементов, изготовленных из кристаллов Ca1 - xSrxF2 с точностью до ?х = ± 0.001.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.