Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «ВОЗМОЖНОСТИ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МАТРИЧНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ ВЫСОКОЧИСТЫХ СТЕКОЛ СИСТЕМ AS-SE И AS-S МЕТОДОМ АТОМНО-ЭМИССИОННОЙ СПЕКТРОМЕТРИИ С ИНДУКТИВНО СВЯЗАННОЙ ПЛАЗМОЙ, "Журнал аналитической химии"»

Авторы:
  • Евдокимов И. И.1
  • Пименов В.Г.2
  • Фадеева Д. А.3
стр. 253-263
Платно
1 Институт химии высокочистых веществ им. Г.Г. Девятых Российской академии наук, 2 Институт органической химии им. Н.Д. Зелинского Российской академии наук 119991 Москва, Ленинский пр., 47, 3 Институт химии высокочистых веществ им. Г.Г. Девятых Российской академии наук
Ключевые слова:
  • атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно связанной плазмой
  • АЭС-ИСП
  • халькогенидные стекла As-Se и As-S
  • определение матричных элементов
Аннотация:
Оценены возможности атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (АЭС-ИСП) как альтернативы рентгеноспектральному анализу при определении матричных элементов стекол систем As-Se и As-S. Стандартные растворы готовили из чистых элементных As, Se и S.?Показано, что определение матричных элементов стекол осуществимо с расширенной неопределенностью 0.05-0.1 мол.%. Сопоставлены результаты определений методами АЭС-ИСП и рентгенофлуоресцентной спектроскопии и установлено, что по достигаемым метрологическим характеристикам результатов АЭС-ИСП не уступает рентгенофлуоресцентной спектроскопии, не требуя при этом наборов твердых адекватных образцов сравнения.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.