Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «Structural Features of SmEuS Thin Polycrystalline Films, "Физика и техника полупроводников"»

Авторы:
  • Kaminskii V.V.1
  • Solov’ev S.M.2
  • Khavrov G.D.3
  • Sharenkova N.V.4
  • Shinji Hirai5
стр. 860-860
Платно
1 Ioffe Institute, Russian Academy of Sciences, 2 Ioffe Institute, Russian Academy of Sciences, 3 Ioffe Institute, Russian Academy of Sciences, 4 Ioffe Institute, Russian Academy of Sciences, 5 Muroran Institute of Technology
Аннотация:
Thin polycrystalline Sm-XEuS films (x = 0.1, 0.167, 0.2, 0.25, 0.33, 0.5) were prepared by evaporation of SmS and EuS powders. Structural features of the films were investigated. The influence of Eu concentration and temperature of film deposition on the value of lattice parameter and sizes of x-ray coherent scattering regions was studied. It is shown that formation of SmEu S films comes about according to the theory that was previously suggested for SmS films and that the deviation of lattice parameter is explained by the variable valence of samarium ions.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.