Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «Анализ дефектов в электронных компонентах сканирующей акустической микроскопией, "Дефектоскопия"»

Авторы:
  • Буров Роман Борисович1
  • Стоянов Андрей Анатольевич2
  • Винокуров Александр Александрович3
  • Зенин Виктор Васильевич4
стр. 21-25
Платно
1 ОАО «Научно-исследовательский институт электронной техники», 2 Воронежский государственный технический университет , 3 Воронежский государственный технический университет , 4 Воронежский государственный технический университет
  • В выпуске: №9, 2017
  • В журнале: Дефектоскопия
  • Издательство: ФГУП «Издательство «Наука»
  • Рубрика ГРНТИ: Физика
  • Год выхода: 2017
  • SDI: 007.001.0130-3082.2017.000.009.3
  • УДК: 620.179.16
Ключевые слова:
  • акустический микроскоп
  • компоненты микроэлектроники
  • внутренние дефекты
  • контроль
Аннотация:
Рассмотрены дефекты на следующих операциях производства электронных компонентов: напайка кристаллов на основания корпусов; монтаж перевернутых кристаллов (flip-chip); герметизация пластмассой интегральных микросхем. Анализ дефектов проведен сканирующей акустической микроскопией.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.  

 

* - цена актуальна только для физических лиц
В т.ч. НДС 20%