Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «ФОТОННОЕ ЭХО КАК МЕТОД ИССЛЕДОВАНИЯ ДЕФЕКТНОЙ СТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ВОЛОКОН ТОНКИХ ТЕКСТУРИРОВАННЫХ ПЛЕНОК, "Известия Российской академии наук. Серия физическая"»

Авторы:
  • Попов И.И.1
  • Вашурин Н.С.2
  • Путилин С.Э.3
стр. 597-600
Платно
1 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Поволжский государственный технологический университет, Йошкар-Ола, 2 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Поволжский государственный технологический университет, Йошкар-Ола, 3 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
Аннотация:
Исследованы зависимости спада стимулированного фотонного эха, возбуждаемого в тонких текстурированных пленках оксида цинка и кремния p- и n-типа, отличающиеся различными размерами кристаллических волокон. Зафиксировано два характера рекомбинации локализованных экситонов на дефектах кристаллической решетки, представленных на исследуемых зависимостях компонентами быстрого и медленного спадов.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.  

 

* - цена актуальна только для физических лиц
В т.ч. НДС 20%