Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «ЭЛЕКТРОННОЕ СТРОЕНИЕ И ФАЗОВЫЙ СОСТАВ ОКСИДА КРЕМНИЯ В КОМПОЗИТНЫХ МЕТАЛЛСОДЕРЖАЩИХ СЛОЯХ МНОГОСЛОЙНОЙ АМОРФНОЙ НАНОСТРУКТУРЫ [(CO40FE40B20)34(SIO2)66/C]46 C УГЛЕРОДНЫМИ ПРОСЛОЙКАМИ, "Неорганические материалы"»

Авторы:
  • Домашевская Э.П.1
  • Буйлов Н.С.2
  • Терехов В.А.3
  • Барков К. И.4
  • Ситников В.Г.5
  • Калинин Ю.Е.6
стр. 950-956
Платно
1 Воронежский государственный университет, 2 Воронежский государственный университет, 3 Воронежский государственный университет, 394006 Воронеж, Россия, 4 Воронежский государственный университет, 5 Воронежский государственный технический университет, 6 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования “Воронежский государственный технический университет”
Ключевые слова:
  • многослойные наноструктуры
  • толщина бислоев
  • композитные металлсодержащие слои
  • углеродные прослойки
  • электронное строение
  • фазовый состав
  • субоксидные фазы кремния
  • малоугловая дифракция
  • ультрамягкая рентгеновская эмиссионная спектроскопия
Аннотация:
Многослойная аморфная наноструктура [(Co40Fe40B20)34(SiO2)66/C]46 из композитных металлсодержащих слоев, чередующихся c углеродными прослойками, получена ионно-лучевым распылением на вращающуюся ситалловую подложку из двух мишеней, одна из которых представляла собой металлическую пластину сплава Co40Fe40B20 со вставками кварца. Неметаллические прослойки напылялись из грфита (вторая мишень). Толщины бислоев многослойной наноструктуры (МНС) (~4-8 нм), состоящие из металлсодержащих композитных слоев (Co40Fe40B20)34(SiO2)66 с оксидами кремния и неметаллических углеродных прослоек, определялись методом малоугловой дифракции. Результаты экспериментального послойного исследования без разрушения МНС методом ультрамягкой рентгеновской эмиссионной спектроскопии композитных слоев (Co40Fe40B20)34(SiO2)66 показали отклонение состава диэлектрического компонента композита от стехиометрии распыляемого кварца в сторону уменьшения содержания кислорода с образованием субоксида SiO1.7. По результатам моделирования SiL2,3-спектров с помощью эталонных спектров известных фаз, содержание субоксидной фазы кремния в составе композитных слоев может достигать половины состава диэлектрического компонента, второй половиной которого является SiO2. Это обстоятельство может способствовать увеличению роли второго канала электропереноса носителей гранула/прослойка/гранула и ранее наблюдаемому резкому спаду удельного электросопротивления и общему подъему магнитной проницаемости МНС.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.