Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «Морфология межслоевой поверхности и микро-рамановские спектры в слоистых пленках топологических изоляторов на основе теллурида висмута, "Физика и техника полупроводников"»

Авторы:
  • Никоноров Н.В.1
  • Асеев В.А.2
  • Бибик А.Ю.3
  • Петров В.Н.4
  • Макаренко И.В.5
  • Лукьянова Л.Н.6
  • Усов О.А.7
стр. 763-765
Платно
1 Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики, 197101 Санкт-Петербург, Россия, 2 Научно-исследовательский институт нанофотоники и оптоинформатики, Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики, 199034 Санкт-Петербург, Россия, 3 Университет ИТМО, 197101 Санкт-Петербург, Россия, 4 Физико-технический институт им. Иоффе РАН, 5 НИИ ядерной физики им. Д.В. Скобельцына Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова, 119991 Москва, Россия, 6 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 7 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Аннотация:
В тонких слоистых пленках n-BiTe и твердых растворов на основе BiTe исследованы резонансные микро-рамановские спектры и морфология межслоевой ван-дер-ваальсовой поверхности. Установлено влияние состава, толщины, морфологии поверхности и метода получения пленок на относительную интенсивность рамановских фононов, чувствительных к поверхностным топологическим состояниям фермионов Дирака.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.  

 

* - цена актуальна только для физических лиц
В т.ч. НДС 20%