Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «Исследование влияния случайных флуктуаций концентрации легирующей примеси на ток в полупроводниковых сверхрешетках, "Письма в Журнал технической физики"»

Авторы:
  • Сельский А.О.1
  • Короновский А. А.2
  • Москаленко О. И.3
  • Храмов А. Е.4
стр. 3-11
Платно
1 Национальный исследовательский Саратовский государственный университет им. Н.Г. Чернышевского, 2 Саратовский государственный университет им. Чернышевского, 3 Саратовский национальный исследовательский государственный университет им. Чернышевского; Саратовский государственный технический университет им. Гагарина, 4 Саратовский государственный технический университет им. Гагарина; Саратовский государственный университет им. Чернышевского
Аннотация:
Исследуется, как случайные флуктуации концентрации легирующей примеси влияют на вольт-амперные характеристики тока, протекающего через полупроводниковую сверхрешетку. Показано, что в зависимости от амплитуды флуктуаций параметров наноструктуры характеристики тока, протекающего через сверхрешетку, заметно изменяются. По малой выборке удалось найти закон распределения плотности вероятности значений интеграла модуля разности токов при различных значениях амплитуды флуктуаций концентрации легирующей примеси.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.