Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «ТЕХНИКА РЕГИСТРАЦИИ СУБПИКОСЕКУНДНОЙ КИНЕТИКИ ОТРАЖЕНИЯ ИЛИ ПРОПУСКАНИЯ, "Приборы и техника эксперимента"»

Авторы:
  • Борисов Г. М.1
  • Гольдорт В. Г.2
  • Ковалёв А. А.3
  • Ледовских Д. В.4
  • Рубцова Н. Н.5
стр. 87-91
Платно
1 Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН; Новосибирский государственный университет, 2 Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН, 3 Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН, 4 Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН, 5 Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова СО РАН
Аннотация:
Разработан и опробован в эксперименте метод двойной модуляции для регистрации кинетики отражения от образца (или пропускания через исследуемый образец) субпикосекундных импульсов пробного излучения ближнего и.к.-диапазона после воздействия импульсов возбуждающего излучения. Пробный сигнал детектируется на частоте, равной сумме стабилизированных, не равных друг другу частот прерывания возбуждающего и пробного излучений, что позволяет удалить из полезного сигнала вклад рассеянного возбуждающего излучения. При регистрации кинетики отражения полупроводникового образца с временным разрешением 0.13 пс достигнута чувствительность по отражению AR/R = 5 • 10.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.