Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНЫЙ МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ МАССОВОГО КОЭФФИЦИЕНТА ПОГЛОЩЕНИЯ В ДВУХСЛОЙНЫХ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ СИСТЕМАХ V/Ge И Cr/Ge, "Неорганические материалы"»

Авторы:
  • Машин Н.И.1
  • Черняева Е.А.2
  • Туманова А.Н.3
  • Ершов А.А.4
стр. 372-
Платно
1 Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского 603950 Нижний Новгород, пр. Гагарина, 2 Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского 603950 Нижний Новгород, пр. Гагарина, 3 Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского 603950 Нижний Новгород, просп. Гагарина, 23, корп. 5, 4 Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского 603950 Нижний Новгород, просп. Гагарина, 23, корп. 5
Аннотация:
Предложен новый способ определения массового коэффициента поглощения при РФлА двухслойных тонкопленочных V/Ge- и Cr/Ge-систем с использованием простых в изготовлении унифицированных пленочных слоев, получаемых нанесением ванадия или хрома на подложку из пленки полимера. Рассчитаны поправочные коэффициенты, учитывающие поглощение первичного излучения рентгеновской трубки и аналитической линии элемента нижнего слоя в верхнем слое.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.