Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «ЗАВИСИМОСТИ ПЛОТНОСТИ МОНОКРИСТАЛЛОВ M1 - xRxF2 + x И R1 - yMyF3 - y (M = Ca, Sr, Ba, Cd, Pb; R ? РЕДКОЗЕМЕЛЬНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ) ОТ СОСТАВА, "Кристаллография"»

Авторы:
  • Сорокин Н.И.1
  • Кривандина Е.А.2
  • Жмурова З.И.3
стр. 952-
Платно
1 Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова РАН, Москва, 2 Институт кристаллографии РАН, Москва, 3 Институт кристаллографии РАН, Москва
Аннотация:
Проведены измерения плотности монокристаллов нестехиометрических фаз Ba1 - xLaxF2 + x (0 x 0.5), Sr0.8La0.2 - xLuxF2.2 (0 x 0.2) со структурой типа флюорита (CaF2) и R1 - ySryF3 - y (R = Pr, Nd; 0 y 0.15) со структурой типа тисонита (LaF3). Выращивание монокристаллов проводилось из расплава методом Бриджмена. Концентрационные зависимости измеренной плотности монокристаллов имеют линейный характер. Подтверждены междоузельная и вакансионная модели образования дефектов во флюоритовых и тисонитовых фазах соответственно. Для практической реализации контроля состава монокристаллов суперионных проводников M1 - xRxF2 + x и R1 - yMyF3 - y построены градуировочные графики рентгеновской плотности в системах MF2 RF3 (M = Ca, Sr, Ba, Cd, Pb; R = La?Lu, Y).

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.