Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «МЕТОД XBIC НА ЛАБОРАТОРНОМ ИСТОЧНИКЕ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ, "Известия Российской академии наук. Серия физическая"»

Авторы:
  • Григорьев М.В.1
  • Фахртдинов Р.Р.2
  • Иржак Д.В.3
  • Рощупкин Д.В.4
  • Якимов Е.Б.5
стр. 26-
Платно
1 ФГАУ «Научноучебный центр «Сварка и контроль» при МГТУ им. Н.Э. Баумана», 2 Учреждение Российской академии наук Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Черноголовка, 3 Учреждение Российской академии наук Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Черноголовка, 4 Учреждение Российской академии наук Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Черноголовка, 5 Учреждение Российской академии наук Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, Черноголовка
Аннотация:
В данной работе представлены результаты реализации метода тока, индуцированного сфокусированным рентгеновским пучком (XBIC ? X-ray beam induced current) на лабораторном источнике. Показано, что при уменьшении размера рентгеновского зонда наряду с улучшением разрешения происходит и увеличение контраста получаемого изображения границ зерен в кристалле.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.