Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста
Войти / Регистрация
Корзина

  • Ваша корзина пуста

Статья «Зависимость морфологии поверхности ультратонких пленок висмута на слюдяной подложке от толщины пленки, "Физика и техника полупроводников"»

Авторы:
  • Крушельницкий А.Н.1
  • Демидов Е.В.2
  • Иванова Е.К.3
  • Каблукова Н.С.4
  • Комаров В.А.5
стр. 914-916
Платно
1 Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, 2 Институт физики микроструктур РАН, ул. Ульянова, 46, 603950 Нижний Новгород, Россия, 3 Институт химии и физики полимеров АН Р Уз, 4 Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена, 5 Научно-исследовательский институт оптико-электронного приборостроения, 188540 Ленинградская обл., Сосновый Бор, Россия
  • SDI: 007.001.0015-3222.2017.051.007.14
Аннотация:
Представлены результаты исследования поверхности пленок висмута толщинами 15-100нм на слюдяной подложке методом атомно-силовой микроскопии. Установлен близкий к линейному характер зависимостей средней шероховатости поверхности и средней высоты фигуры роста от толщины пленки. Обнаружено увеличение среднего размера кристаллитов с увеличением толщины пленки, и выявлена слабая зависимость размера кристаллита от толщины при толщинах 27-70 нм.

Архивные статьи (2015 год и ранее) доступны для ознакомления бесплатно, для скачивания их необходимо приобрести. Для просмотра материалов необходимо зарегистрироваться и авторизоваться на сайте.

Чтобы приобрести доступ к материалу для юридического лица, пожалуйста, свяжитесь с администрацией портала с помощью формы обратной связи либо по электронному адресу libnauka@naukaran.com.  

Действия с материалами доступны только авторизованным пользователям.